OP5340（膜厚儀）
17c起草官网半導體專注（zhù）於半導體工藝（yì）設（shè）備的研發、製造、銷售（shòu）及售後一體化服務，提（tí）供半導體廠商工藝設備的一（yī）站式解決方案。
關（guān）鍵詞：
半導（dǎo）體設備、半導體工藝（yì）
所屬分類（lèi）：
產品描述（shù）
Opti-Probe 5000 用於非接觸式晶圓膜厚測量，通過測量單層或多層晶圓上薄膜（mó）的光學（xué）參數（反射光和建模的薄（báo）膜參數（shù）），計（jì）算出薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種（zhǒng）不同的（de）技術來測量薄膜厚度以及反射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源進行（háng）測量。
產品詢價
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