Particle Counter(顆粒檢測)

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關鍵詞:

半導體設(shè)備、半導體工藝

所屬分(fèn)類:

產品谘(zī)詢:

產品描述(shù)

The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.

產品詢價(jià)

湧(yǒng)淳半導體

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